zeta電位及納米粒度儀產(chǎn)品介紹

     Nicomp多峰分布概念：基線調(diào)整自動(dòng)補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個(gè)主要特點(diǎn)，Nicomp創(chuàng)始人DaveNicole很早就認(rèn)識(shí)到傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布，這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符，因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)的Nicomp多峰分布理論，提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優(yōu)勢Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì)，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm，ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。zeta電位及納米粒度儀產(chǎn)品介紹

       技術(shù)優(yōu)勢1、PMT高靈敏度檢測器；2、可搭配不同功率光源；3、雙列直插式電極和樣品池，可反復(fù)使用成千上萬次；4、鈀電極；5、精確度高，接近樣品真實(shí)值；6、復(fù)合型算法：高斯（Gaussion）單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換；相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換；7、快速檢測，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；8、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；9、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求；10、無需校準(zhǔn)；11、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí)；（1）可自動(dòng)稀釋模塊（選配）；（2）搭配多角度檢測器（選配）；（3）自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)（選配）；有哪些zeta電位及納米粒度儀聯(lián)系方式其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)情況。

       產(chǎn)品優(yōu)勢：一、模塊化設(shè)計(jì)：Nicomp380納米激光粒度儀是全球率先在應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級(jí)和增加，Nicomp380的功能體系越來越強(qiáng)大，可以用于各種復(fù)雜體系的檢測分析。二、自動(dòng)稀釋模塊（選配）：自動(dòng)稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差，且不需要人工不斷試錯(cuò)來獲得合適的測試濃度，這縮短了測試者寶貴時(shí)間，且無需培訓(xùn)，測試結(jié)果重現(xiàn)性好，誤差率＜1%。三、380/HPLD大功率激光器：美國PSS粒度儀公司在開發(fā)儀器的過程中，考慮到在各種極端實(shí)驗(yàn)測試條件中不同的需求，對不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對極小的粒子也能搜集到足夠的散射信號(hào)，使得儀器能夠得到極小粒子的粒徑分布。同樣，大功率激光器在測試大粒子的時(shí)候同樣也很有幫助，比如在檢測右旋糖酐大分子時(shí)，折射率的特性會(huì)引起光散射強(qiáng)度不足。因?yàn)榇蠊β始す馄鞯奶匦?，?huì)彌補(bǔ)散射光強(qiáng)的不足和衰減，測試極其微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個(gè)苛刻的難題。即使沒有色譜分離，Nicomp380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。

     Zeta電勢電位原理1.什么是ZETA電勢電位：Zeta電位（Zetapotential）是指剪切面(ShearPlane)的電位，又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。2.STERN雙電子層：膠核表面擁有一層離子，稱為電位離子，電位離子通過靜電作用，把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周圍，被吸引的離子稱為反離子，越靠近膠核表面的地方反離子越密集，相反，越遠(yuǎn)的地方反離子越稀疏，他們的電荷總量與電位離子相等并且符號(hào)相反。因此，整個(gè)膠團(tuán)是處于電中性狀態(tài)，而膠核表面電勢是醉高的，根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統(tǒng)如何測ZETA電位：目前測量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動(dòng)電位法以及超聲波法。NicompZ3000采用的是主流的電泳法測試ZETA。五、380/MA多角度檢測器（選配） 粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射。

      Nicomp380系列納米激光粒度儀專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案。工作原理：粒度分布：動(dòng)態(tài)光散射儀（Dynamic Light Scattering,DLS）/ZETA電位：多普勒電泳光散射原理（Doppler ElectrophoreticLightScattering,DELS）；檢測范圍：粒徑范圍0.3nm-10.0μm/ZETA電位+/-500mV；Nicomp380Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380ZLS&S基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來，采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS）檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍0.3nm–10μm，ZETA電位檢測范圍為+/-500mV。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（Gaussian）單峰算法的Nicomp多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個(gè)電極可以使用成千上萬次。另外，采用可變電場適應(yīng)不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度，亦幫用戶節(jié)省檢測成本。另外，采用可變電場適應(yīng)不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度，亦幫用戶節(jié)省檢測成本。廣東品牌zeta電位及納米粒度儀怎么樣

ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個(gè)電極可以使用成千上萬次。zeta電位及納米粒度儀產(chǎn)品介紹

Nicomp多峰分布概念：基線調(diào)整自動(dòng)補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個(gè)主要特點(diǎn)，Nicomp創(chuàng)始人DaveNicole很早就認(rèn)識(shí)到傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布，這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符，因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)的Nicomp多峰分布理論，提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優(yōu)勢Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì)，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。zeta電位及納米粒度儀產(chǎn)品介紹