光電直讀光譜儀的特點：在工業(yè)生產中，由于光電直讀光譜儀分析費用節(jié)省，分析速度快，分析結果可靠，已被普遍采用。它具有以下優(yōu)點。用光電直讀光譜儀做分析，可使用的譜線波長范圍較寬。這個范圍由光電倍增管的性能決定。例如，用石英窗孔的PMT，加上光譜儀的光學系統(tǒng)置于真空中，可用的波長可短至150nm。這就可能利用位于波段中的譜線來分析。校準曲線范圍寬。由于PMT對信號的放大能力很大，對于強弱不同的譜線所用的PMT可用不同的放大倍數(shù)。相差可達10000倍。因此，光電法可用同一分析條件對樣品中許多元素進行分析。雖然含量范圍相差懸殊的很多元素從高含量到低含量都可同時分析。微型光譜儀具體模塊化和高速采集的特點。蘇州紅外光譜分析儀推薦
發(fā)射光譜分析的過程：把試樣在能量的作用下蒸發(fā)、原子化(轉變成氣態(tài)原子)，并使氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)至高能態(tài)。當從較高的能級躍遷到較低的能級時，原子將釋放出多余的能量而發(fā)射出特征譜線。這一過程稱為蒸發(fā)、原子化和激發(fā)，需借助于激發(fā)光源來實現(xiàn)。把原子所產生的輻射進行色散分光，按波長順序記錄在感光板上，就可呈現(xiàn)出有規(guī)則的光譜線條，即光譜圖。系借助于攝譜儀器的分光和檢測裝置來實現(xiàn)。根據(jù)所得光譜圖進行定性鑒定或定量分析。由于不同元素的原子結構不同，當被激發(fā)后發(fā)射光譜線的波長不盡相同，即每種元素都有其特征的波長，故根據(jù)這些元素的特征光譜就可以準確無誤的鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強度與試樣中該元素的含量有關，因此還可利用這些譜線的強度來測定元素的含量(定量分析)。蘇州紅外光譜分析儀推薦紫外光譜儀設計一般都盡量避免在光路中使用透鏡，主要使用反射鏡。
紫外/可見光譜儀還可以用來表征金屬納米粒子的聚集程度。金屬的表面等離子體共振吸收與表面自由電子的運動有關。貴金屬可看作自由電子體系，由導帶電子決定其光學和電學性質。在金屬等離子體理論中，若等離子體內部受到某種電磁擾動而使其一些區(qū)域電荷密度不為零，就會產生靜電回復力，使其電荷分布發(fā)生振蕩，當電磁波的頻率和等離子體振蕩頻率相同時，就會產生共振。這種共振，在宏觀上就表現(xiàn)為金屬納米粒子對光的吸收。金屬的表面等離子體共振是決定金屬納米顆粒光學性質的重要因素。由于金屬粒子內部等離子體共振激發(fā)或由于帶間吸收，它們在紫外-可見光區(qū)域具有吸收譜帶。不同的金屬粒子具有其特征吸收譜。因此，通過紫外-可見光光譜，特別是與Mie理論的計算結果相配合時，能夠獲得關于粒子顆粒度、結構等方面的許多重要信息。此技術簡單方便，是表征液相金屬納米粒子比較常用的技術。
變頻功率分析儀額定值，一次電壓：220V、380V、660/690V、1000/1140V、3k/3.3kV、6kV、10kV、20kV、35kV。一次電流：10A、12.5A、15A、20A、25A、30A、40A、50A、60A、75A以及它們的十進制倍數(shù)或小數(shù)。有下劃線者為優(yōu)先值。頻率范圍：對于變頻功率分析儀而言，額定頻率范圍應該是一組包含下限和上限的數(shù)值，額定頻率范圍由制造廠家自行規(guī)定，在規(guī)定的額定頻率范圍內，分析儀的測量誤差應滿足準確級對應誤差限制的要求。采樣速率：采樣速率不應低于帶寬（或防混疊濾波器截止頻率）的兩倍。帶寬：帶寬額定值不應高于采樣速率的1/2。野外光譜儀是一種用于農學領域的分析儀器。
功率分析儀的特點：IEC指出：所有儀表和測量裝置的誤差都必須進行實際測量，未經(jīng)測量，光是以其它測量中計算出來的和引用電壓、電流和功率因數(shù)組合的誤差，不能作為評價裝置基本誤差的依據(jù)。常規(guī)的測量方法是：電壓/電流傳感器先將高電壓/大電流信號變換為低電壓/小電流信號，再連接到分析儀，分析儀只測量低電壓和小電流信號。這種方式下，傳感器和分析儀及傳輸線路都會引入測量誤差，一方面加大了測量誤差，另一方面也使測量誤差不好預計。變頻功率分析儀，不論是低電壓、小電流還是高電壓、大電流信號，均可采用各種不同量程的變頻電量變送器直接連接一次回路，變送器直接輸出數(shù)字信號，二次儀表只是對數(shù)字信號進行必要的運算，并不會增加誤差，這樣，引入誤差的環(huán)節(jié)只有一個，只需要對變頻電量變送器的誤差進行試驗，即可確定整個系統(tǒng)的誤差。碳硅分析儀可通過鐵水結晶法來測量計算碳硅成份及鐵水品質。哈爾濱熒光光譜分析儀銷售
智能光譜分析儀在光譜的測量、光放大器各個波長的增益系數(shù)和增益平坦度的測試中都可以使用。蘇州紅外光譜分析儀推薦
手持式金屬分析光譜儀,包括金屬分析光譜儀主體,所述金屬分析光譜儀主體的兩側均固定安裝有限位座,所述限位座的一側開設有限位槽,所述金屬分析光譜儀主體的一端覆蓋有防塵罩,所述防塵罩的兩側均開設有通孔,所述通孔內滑動安裝有限位柱,所述限位柱的一端貫穿通孔并延伸至限位槽內,所述限位柱的另一端貫穿通孔并焊接有壓把,所述防塵罩的頂部和底部均焊接有固定板,所述固定板上開設有圓形孔.本實用新型操作簡單,利用防塵罩可以對金屬分析光譜儀主體的檢測前端進行防塵,拉動防塵罩即可利用金屬分析光譜儀主體對待測物體進行檢測,使用便捷,且不會對檢測結果造成影響。蘇州紅外光譜分析儀推薦
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